Zeta電位納米粒度儀是用于測試納米粒徑及粒徑分布的全新軟件，采用動態(tài)光散射技術(shù)及電泳光散射技術(shù)，可以實(shí)時、準(zhǔn)確地檢測膠體溶液中納米顆粒的粒徑及粒徑分布，以及Zeta電位等參數(shù)。

　　Zeta電位納米粒度儀的原理主要基于電泳遷移和動態(tài)光散射技術(shù)。以下是該原理的詳細(xì)解釋：

　　1、電泳遷移：Zeta電位納米粒度儀通過施加一個電場，使帶電的納米顆粒在電場中發(fā)生定向遷移。這個遷移的速度與顆粒的電荷量、電場強(qiáng)度以及電介質(zhì)的介電常數(shù)有關(guān)。具體來說，負(fù)電荷的顆粒會向正電極方向遷移，而正電荷的顆粒會向負(fù)電極方向遷移。

　　2、動態(tài)光散射：在電場作用下，運(yùn)動的納米顆粒當(dāng)受到激光照射時，會產(chǎn)生散射光。由于多普勒效應(yīng)，這個散射光的頻率會發(fā)生變化。散射光與參考光疊加后，頻率的變化會更加明顯。通過測量這個頻率變化，可以推算出顆粒的運(yùn)動速度。

　　3、Zeta電位的計(jì)算：根據(jù)顆粒在電場中的遷移速度和所施加的電場強(qiáng)度，可以計(jì)算出顆粒的電動力學(xué)電荷。進(jìn)一步地，通過考慮電介質(zhì)的影響，可以推算出顆粒表面的電位，即Zeta電位。

　　綜上所述，Zeta電位納米粒度儀通過結(jié)合電泳遷移和動態(tài)光散射技術(shù)，可以準(zhǔn)確地測量納米顆粒的Zeta電位和粒度分布。這對于理解納米顆粒的分散穩(wěn)定性、相互作用以及在各種應(yīng)用中的行為具有重要意義。